教你打造全功能三星硬盘检测软件

破解后选项增多，实用性增强不少

首先是如何破解的问题，和AMD处理器“开核”方法很简单类似，我们的HUTIL 210软件破解方法也很简单。您只需由前文提到的官方网址下载HUTIL 210(For FDD)版本，然后用笔者为大家准备的破解专用CFG文件，覆盖压缩包中的同名文件后，即可获得一套全功能版HUTIL 210软件。

凭空多出三菜单，功能增加三十多项

接下来，让我们来看看相比原本的“屏蔽”版，全功能版的HUTIL 210软件都有什么不同。

图1 “开核”前，HUTIL 210软件主菜单仅有三个选项，只包含了TOOL和OPTION两个可选菜单。

由图1和图2对比可见，经过破解后，HUTIL 210软件主菜单中共增加了“TEST”(侧重硬盘各种测试，偏重工厂级调试，对普通用户作用不大）；“INFORMATION”（侧重硬盘缺陷查看，偏重工程人员查看）；“SMART”（侧重SMART相关，对普通用户有一定的帮助）这个三菜单选项。其中：TEST选项菜单更是包含了SHORT TEST、LONG TEST和LONG TEST & DF等实用工具在内的19个功能子选项。

图2 “开核”后，全功能版HUTIL 210软件的主菜单，有六项之多。

这19个子菜单也许会让玩家感到复杂。不过就功能实用性的角度来讲我们并不需要记住每一个选项，在这里我们重点介绍TEST菜单中较常用的两个功能SHORT TEST 和LONG TEST，其主要工作是利用内置的微代码检测功能对硬盘的各项参数进行测试，用户可以通过这两个选项快捷方便地检查出硬盘存在的问题。

TEST选项菜单子菜单一览

SHORT TEST

LONG TEST

LONG TEST & DF

READ ALL

READ FROM TO

RAND FROM TO

WRITE ALL

WRITE FROM TO

READ WRITE

DEFECT FREE

BURN IN

ERASE & SCAN

OD SCRATCH TEST

AV SCAN TEST

DISK CONFIRM

RAM VERIFY TEST

RAM VERIFY TEST2

CHECK SHOCK

MANUAL TEST

其中，SHORT TEST测试项目将会对整个硬盘的磁道和扇区进行随机性扫描，所以测试速度非常快，但测试结果可能会不准确。LONG TEST测试项目会将整个硬盘的磁道和扇区全部都检查一遍，测试所花费的时间相对会长一些，但测试结果准确性较高。至于什么时候选用长测，什么时候选用短测，用户可以这样判定：怀疑硬盘存在盘面缺陷可能性比较大时，直接选用长测；怀疑是其他硬件故障，可以直接选用短测，基准测试次数为10次左右。经过这两个测试，我们能基本掌握手中三星硬盘的“身体”情况，为对症下药做好准备。

SMART选项菜单子菜单一览

SMART INFORMATION

SMART ELOG

CHECK TEMPERATURE

SMART STATUS

ENABLE SMART

DISABLE SMART

INITIALIZE SMART

BRIEF INFORMATION

VIEW SELFTEST LOG

SMART SELF TEST

接下来说说破解出的SMART选项菜单。相对TEST选项菜单来说，SMART选项菜单无疑更让玩家喜爱。